Grupo de Ingeniería Electrónica (GEE)
Publicaciones en revistas
- Torrens, G.; Alorda, B.; Barcelo, S.; Rossello, J.L.; Bota, S.A.; Segura, J, "Design Hardening of Nanometer SRAMs Through Transistor Width Modulation and Multi-Vt Combination", "Ieee Transactions On Circuits And Systems Ii-Express Briefs", Volumen 57, Número 4, Páginas 280-284, 2010. Artículo.
- Canals, V.; Morro, A.; Rossello, J.L., "Stochastic-Based Pattern Recognition Analysis", "Pattern Recognition Letters", Volumen 31, Número 15, Páginas 2353-2356, 2010. Artículo.
- Estrada, M.; Cerdeira, A.; Mejia, I.; Avila, M.; Picos, R.; Marsal, L.F.; Pallares, J.; Iñiguez, B., "Modeling the behavior of charge carrier mobility with temperature in thin-film polymeric transistors", "Microelectronic Engineering", Volumen 87, Número 12, Páginas 2565-2570, 2010. Artículo.
- Suenaga, K.; Isern, E.; Picos, R.; Bota, S.; Roca, M.; Garcia-Moreno, E, "Application of Predictive Oscillation-Based Test to a CMOS OpAmp", "IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement", Volumen 59, Número 8, Páginas 2076-2082, 2010. Artículo.