Grupo de Sistemas Electrónicos (GSE)
Publicaciones en revistas
- D.Malagón;S.A. Bota;G. Torrens; X. Gili;J. Praena;B. Fernández;M. Macías;J.M. Quesada;Carlos Guerrero Sanchez ;M.C.Jiménez-Ramos;J.García López;J.L.Merino;J. Segura., "Soft error rate comparison of 6T and 8T SRAM ICs using mono-energetic proton and neutron irradiation sources", "Microelectronics Reliability", Volumen 78, Páginas 38-45, 2017. Artículo.